2025年6月6日至10日，第十八届全国超导学术研讨会（NCSC2025）在上海举办。课题组博士生柳震作了题为《超导纳米线自热电流反演缺陷成像》的口头报。
报告聚焦于超导纳米线单光子探测器（SNSPD）的性能优化问题，指出当前器件性能提升面临的主要瓶颈是纳米线中的缺陷与不均匀性。研究通过建立电热仿真模型，分析自热电流在IV曲线中的回滞行为，揭示其与局部热岛和缺陷分布的关联。
研究团队进一步搭建了激光泵浦自热电流成像系统，实现了对纳米线局部不均匀性的原位、高分辨率成像与分类，并成功将自热电流特征与缺陷空间分布关联起来。此外，报告还介绍了基于相似度匹配的暗计数源定位方法，实现了对纳米线中暗计数来源的亚微米级定位，并分析了温度对暗计数行为的影响。
本工作不仅为理解SNSPD中缺陷与器件性能的关系提供了新方法，也为未来超导纳米线的缺陷工程、低温原位表征技术以及器件物理机制的深入研究奠定了基础。
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